High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography voorzijde
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography achterzijde
  • High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography voorkant
  • High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography achterkant

Specificaties
ISBN/EAN 9780367400637
Auteur D.K. Bowen
Uitgever Van Ditmar Boekenimport B.V.
Taal Engels
Uitvoering Paperback / gebrocheerd
Pagina's 264
Lengte
Breedte

Wat vinden anderen?

Er zijn nog geen reviews van dit product.