Patsy: Parability for Automatic Test SYstems
Specificaties
| ISBN/EAN | 9781647021795 |
| Auteur | Tobey, Don |
| Uitgever | Van Ditmar Boekenimport B.V. |
| Taal | Engels |
| Uitvoering | Gebonden in harde band |
| Pagina's | 248 |
| Lengte | |
| Breedte |